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蔡司裂变径迹显微分析系统

2016-10-31 20:45| 发布者: fansiyuan| 查看: 194| 评论: 0

摘要: 蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统,实现智能自动化操作,对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计;能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值,依据自发径迹密度和诱 ...
金相显微镜


品牌:卡尔·蔡司

型号:Axio Imager M2m

制造商:德国卡尔蔡司公司

经销商:北京普瑞赛司仪器有限公司

产地:德国

联系方式:800-890-0660

ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天,ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品及其解决方案。通过我们不断改进的显微分析技术,我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观分析世界的道路。

总体描述

蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统,实现智能自动化操作,对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计;能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量DparDper值,依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。

产品特点:

      最佳优化的操作理念

      拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统

  全自动Z轴自动聚焦模块

      保证最大稳定性和免振动工作的创新设计

      统计辐照单矿物的裂变径迹数,分析计算矿物表观年龄,并模拟地质体热演化历史

技术参数

硬件光学系统:ICCS光学系统

1.专业分析物镜:5X10X20X50X100X

2.自动扫描台:行程130X85mm,步距为 0.1μm,重复精度小于1.0μm

3.变倍转换器:1.25X,1.6X

4.图像采集:彩色数码冷CCD:500万像素,信实时采集,同步捕捉图像,传输速度快,同时显示。

5.分析系统:自动识别待测对象,自动定位及查找功能,自动完成颗粒数目统计、测量径迹与C轴角度、能测量DparDper值等。所有的测试及结果(图片、表格、报告)均自动保存至数据库,可随时调用并返回当时的测量参数,保证可追溯测定结果;

用途:

矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。

组成:

蔡司全自动科研级显微镜

蔡司Axio vision强大分析软件

 

自动扫描平台                      Relocation功能

自动物镜转换器                    ManualMeasure功能

自动模块盒                        AutoMeasure功能

自动光强控制管理


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